半導体

ウェハの透過検査

近赤外波長を使用することで、シリコンウェハを透過させて検査を行うことが可能です。
弊社の近赤外LED光源は150W近赤外ハロゲンランプを超える強力な光量を出力可能でありながら熱の発生を抑えることが可能です。